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檢測項:邏輯低電壓水平 檢測樣品:光耦合器 標準:(2)半導體器件光電子器件分規(guī)范 GB 12565-1990
檢測項:反向電流 檢測樣品:光耦合器 標準:(1)半導體分立器件和集成電路 第5-3部分:光電子器件測試方法 GB/T 15651.3-2003
檢測項:電流傳輸比 檢測樣品:光耦合器 標準:(2)半導體器件光電子器件分規(guī)范 GB 12565-1990
機構(gòu)所在地:北京市
檢測項:插入損耗 檢測樣品:波導和 同軸器件 標準:無線通信室內(nèi)信號分布系統(tǒng)無源器件認證技術(shù)規(guī)范 第2部分:耦合器 TLC 002-2011
檢測項:帶內(nèi)波動 檢測樣品:波導和 同軸器件 標準:無線通信室內(nèi)信號分布系統(tǒng)無源器件認證技術(shù)規(guī)范 第2部分:耦合器 TLC 002-2011
檢測項:隔離度 檢測樣品:波導和 同軸器件 標準:無線通信室內(nèi)信號分布系統(tǒng)無源器件認證技術(shù)規(guī)范 第2部分:耦合器 TLC 002-2011
機構(gòu)所在地:上海市
檢測項:輸出短路電流 檢測樣品:光電耦合器 標準:GB/T15651.3-2003 半導體分立器件和集成電路第5-3部分 SJ 2215-8
檢測項:輸出高電平的電源電流 檢測樣品:光電耦合器 標準:GB/T15651.3-2003 半導體分立器件和集成電路第5-3部分 SJ 2215-8
檢測項:輸出低電平的電源電流 檢測樣品:光電耦合器 標準:GB/T15651.3-2003 半導體分立器件和集成電路第5-3部分 SJ 2215-8
機構(gòu)所在地:湖北省宜昌市
檢測項:電磁兼容性 檢測樣品:汽車 標準:ISO11452-4:2011道路車輛—窄帶輻射電磁能產(chǎn)生的電干擾的零部件測試方法—第4部分:線束激勵法
機構(gòu)所在地:北京市